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光电仿真技术：光电检测仿真_（6）.光电检测系统的噪声分析.docx

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    光电检测系统的噪声分析

    噪声的定义与分类

    在光电检测系统中，噪声是一个不可避免的现象，它会对系统的性能产生严重影响。噪声通常定义为干扰信号的随机波动，这些波动可能会掩盖或扭曲所需信号，从而影响检测的准确性和可靠性。根据噪声的来源和特性，光电检测系统中的噪声可以分为以下几类：

    热噪声（ThermalNoise）：由于电子的随机热运动引起的噪声，通常在电阻和半导体器件中出现。

    散粒噪声（ShotNoise）：由于载流子（如电子和空穴）的不连续性引起的噪声，通常在光电二极管和光电倍增管中出现。

    暗电流噪声（DarkCurrentNoise）：在光电探测

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