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双极晶体管在电磁脉冲下的损伤机制及特性研究

一、引言

1.1研究背景与意义

随着现代电子技术的飞速发展，电子设备在各个领域的应用日益广泛，其可靠性和稳定性也愈发受到关注。电磁脉冲（ElectromagneticPulse，EMP）作为一种强大的瞬态电磁干扰源，对半导体器件尤其是双极晶体管构成了严重威胁。电磁脉冲可以由多种自然和人为因素产生，如雷电、静电放电、核爆炸以及高功率微波武器等。这些电磁脉冲具有极高的电场强度、磁场强度和瞬间能量，能够在极短的时间内对电子设备造成严重的干扰和损坏。

双极晶体管作为电子设备中最基本的组成部分之一，广泛应用于各种放大器、开关电路和逻辑电路中。其性能的优劣直