光电探测器仿真：噪声特性仿真_（4）.热噪声仿真.docx

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热噪声仿真

1.热噪声的基本概念

热噪声，也称为约翰逊-奈奎斯特噪声（Johnson-Nyquistnoise），是由于导电材料中的自由电子的随机热运动引起的。这种噪声是不可避免的，存在于所有电阻性元件中。在光电探测器中，热噪声主要由探测器的内部电阻和外部电路中的电阻元件产生。热噪声的强度与电阻的大小、温度和带宽成正比。

1.1热噪声的物理机制

热噪声的物理机制可以追溯到自由电子在导电材料中的随机运动。这些随机运动导致电流的波动，进而产生噪声电压。根据奈奎斯特公式，热噪声的功率谱密度为：

S

其中：-Svf是噪声电压的功率谱密度（单位：V2/