光电探测器仿真：噪声特性仿真_（5）.散粒噪声仿真.docx

PAGE1

PAGE1

散粒噪声仿真

1.散粒噪声的基本概念

散粒噪声（ShotNoise）是由于光子和电子的离散性引起的噪声。在光电探测器中，光子的到达是随机的，而电子的产生也是随机的，这种随机性导致了电流的波动。散粒噪声是光电探测器中的一种基本噪声源，其强度与信号的强度成正比。散粒噪声的数学表达式通常为：

I

其中：-Ishot是散粒噪声的均方根值（RMS）。-q是电子的电荷量（1.602^{-19}）。-I0是光电探测器的平均光电流。-Δ

散粒噪声的特性决定了它在光电探测器中的重要性，特别是在低光强和高带宽的条件下，散粒噪声的影响尤为显著。