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半导体晶圆测试用探针卡 技术要求-编制说明.pdf

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    半导体晶圆测试用探针卡技术要求

    团体标准编制说明

    2025年10月

    一、任务来源

    《半导体晶圆测试用探针卡技术要求》团体标准的编制任务源

    于企业与科研院所之间的横向合作项目。该项目针对半导体探针卡研

    发、制造及质量控制的共性需求，开展系统研究，并结合行业生产制

    造过程中的难点痛点，制定本项标准。

    二、起草单位

    《半导体晶圆测试用探针卡技术要求》团体标准起草单位包括

    武汉精毅通电子技术有限公司、武汉精测电子集团股份有限公司、苏

    州精濑光电有限公司、武

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