电子产品老化测试工艺.docx

  1. 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
  2. 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  3. 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多

电子产品老化测试工艺

在电子制造车间的角落里,总有几间被精密仪器填满的房间——那是老化测试实验室。作为从业近十年的测试工程师,我常常在这些房间里一待就是大半天。透过观察窗看那些闪烁的指示灯,听着设备运转的嗡鸣,总忍不住想:这些看似“折磨”产品的测试,其实是给电子产品颁发“成年礼”的仪式——只有扛过了这场“压力训练”,它们才能真正走向市场,和用户说一声“我准备好了”。

一、老化测试:电子产品的”压力训练营”

要理解老化测试工艺,首先得明白它存在的底层逻辑。就像新兵入伍要经历魔鬼训练才能上战场,电子产品从生产线下来时,虽然功能正常,但内部可能隐藏着“脆弱基因”:焊接点虚接的隐患、电子元件的早期失效

文档评论(0)

【Bu】’、 + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档