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海思芯片HTOL老化测试技术规范.docx

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    审核：

    HTOL测试技术规范

    拟制：克鲁鲁尔

    批准：

    日期：2019-10-30

    历史版本记录

    版本

    时间

    起草/修改人

    内容描述

    审核人

    批准人

    V1.0

    2019-10-30

    克鲁鲁尔

    首次发布

    适用范围：

    该测试它以电压、温度拉偏方式，加速的方式模拟芯片的运行状况，用于芯片寿命和长期上电运行的可靠性评估。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HTOL老化测试需求。

    简介：

    HTOL(HighTemperatureOperatingLife)测试是芯片电路可靠性的一项关键性的基础测试，它用应力加速的方式模拟芯片的长期运行，以此评估芯片寿命和长期

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