海思芯片HTOL老化测试技术规范.docx

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审核:

HTOL测试技术规范

拟制:克鲁鲁尔

批准:

日期:2019-10-30

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版本

时间

起草/修改人

内容描述

审核人

批准人

V1.0

2019-10-30

克鲁鲁尔

首次发布

适用范围:

该测试它以电压、温度拉偏方式,加速的方式模拟芯片的运行状况,用于芯片寿命和长期上电运行的可靠性评估。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HTOL老化测试需求。

简介:

HTOL(HighTemperatureOperatingLife)测试是芯片电路可靠性的一项关键性的基础测试,它用应力加速的方式模拟芯片的长期运行,以此评估芯片寿命和长期

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