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海思芯片HTSL-测试技术规范.docx

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    海思HTSL(HighTemperatureStorageLife)测试技术规范

    拟制：克鲁鲁尔

    审核：

    批准：

    日期：2019-11-11

    历史版本记录

    版本

    时间

    起草/修改人

    内容描述

    审核人

    批准人

    V1.0

    2019-11-11

    克鲁鲁尔

    首次发布

    适用范围：

    该试验检查芯片长期贮存条件下，高温和时间对器件的影响。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HTSL测试需求。

    简介：

    该测试不上电存储条件下，保持恒定的高温环境，检查该条件下芯片的材料氧化、不同材料相互扩散导致的失效。例如，Pad和Wire的金属间化合物的生长、某些存储类器件的数据保持状

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