半导体物理实验——高频光电导法测少子寿命.docx

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实验报告

院别

电子信息学院

课程名称

半导体物理实验

班级

实验名称

高频光电导法测少子寿命

姓名

实验时间

2018.11.07

学号

指导教师

成绩

批改时间

报告内容

实验目的和任务

1、了解光电导法测试少数载流子寿命的原理，熟练掌握LT-2高频光电导少数载流子寿命测试仪的使用方法；

2、测非平衡载流子的寿命。

实验原理

处于热平衡状态的半导体，在一定温度下，载流子浓度是一定的。这种处于热平衡状态下的载流子浓度，称为平衡载流子浓度。半导体的热平衡状态是相对的，有条件的。如果对半导体施加外界作用，破坏了热平衡的条件，这就迫使它处于与热平衡状态相偏离的状态，称为非平衡状态。处于非平衡状态的

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