深度解析(2026)《GBT 41805-2022光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法》.pptxVIP

《GB/T41805-2022光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法》(2026年)深度解析

目录一从定性判断到定量革命：专家深度剖析新国标如何重塑光学表面疵病检测的科学范式与精度极限二显微散射暗场成像法技术全解：深入拆解其核心光学原理成像机制与区别于传统方法的革命性优势三标准核心术语与定义体系权威解读：构建精准统一无歧义的疵病检测技术语言基础四检测系统硬件构成与关键部件选型指南：从光源到相机，深度剖析设备配置的每一个技术细节与性能要求五标准核心操作流程全景还原：步步为营，专家视角下的样品准备系统校准图像采集标准化作业程序六从图像到数据：(2026年)深度解析疵病特征提取智能