探究GaN单晶材料掺杂与电学特性调控:理论、方法与应用
一、引言
1.1研究背景
在半导体材料的发展历程中,从第一代半导体硅(Si)、锗(Ge),到第二代化合物半导体砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP),再到如今备受瞩目的以氮化镓(GaN)、碳化硅(SiC)为代表的第三代半导体材料,每一次的变革都推动了电子技术的巨大进步。其中,GaN单晶材料凭借其卓越的性能,在现代半导体领域占据了极为重要的地位,展现出广阔的应用前景,对其深入研究显得尤为必要。
GaN是一种宽带隙半导体材料,其禁带宽度高达3.4eV,约为Si的3倍,这使得GaN在高温、高频、高功率应用中具有先天优势。在高
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