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深入探究CCD器件辐照损伤效应、机理及应对策略

一、引言

1.1研究背景与意义

电荷耦合器件（ChargeCoupledDevice，CCD）作为一种重要的半导体光电器件，自1970年由美国Bell实验室成功研制以来，凭借其体积小、重量轻、功耗低、量子效率高、动态范围大、寿命长以及机械强度高等一系列优良性能，在众多领域得到了极为广泛的应用。在航天领域，CCD被大量应用于航天器对地观测、遥感以及空间科学探测器等任务中，为人类探索宇宙、获取地球资源信息等提供了关键支持；在医学成像领域，CCD技术的运用使得医学诊断更加准确、高效，例如在X光成像、内窥镜检查等方面发挥着重要作用