宣贯培训(2026)GBT 41064-2021表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法长文.pptxVIP

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目录

一、构建深度剖析基石：专家视角深度解读GB/T41064-2021如何为表面化学分析建立统一、可靠的溅射速率标尺与方法学框架

二、解锁材料微观世界的钥匙：前瞻性探讨基于标准化的单层与多层薄膜参考样品的核心价值、设计制备关键与未来智能化制备趋势

三、精准刻蚀的艺术与科学：深入剖析标准中溅射速率测定的核心原理、数学模型构建及其在XPS深度剖析中的关键应用与校准难点

四、俄歇电子能谱深度剖析的航标：系统解读标准方法如何校准AES溅射速率，攻克界面展宽与元素灵敏因子变化带来的定量化挑战

五、驾驭离子束的“时-空”转换：专家(2026年)深度解析标准如何指导SIM