《GB_T 4937.18-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)》专题研究报告.pptx

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目录一、电离辐照“隐形杀手”如何破?GB/T4937.18-2018为半导体器件筑牢防护屏障——专家视角解读标准核心价值二、从空间到核工业:半导体器件电离辐照失效难题待解,标准如何定义试验边界?——深度剖析适用范围与对象三、术语“迷雾”扫清!电离辐照核心概念为何是试验精准度的基石?——标准关键术语权威释义与实践关联未来5年辐照试验升级方向在哪?标准框架下的试验原理与总则深度拆解五、试验“装备

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