2025年3D封装测试技术前沿动态报告.docx

2025年3D封装测试技术前沿动态报告

一、:2025年3D封装测试技术前沿动态报告

1.1技术发展背景

1.23D封装测试技术概述

1.2.13D封装技术

1.2.23D封装测试方法

1.2.33D封装测试设备

1.33D封装测试技术发展趋势

1.3.1测试精度不断提高

1.3.2测试速度不断加快

1.3.3测试方法不断创新

1.3.4测试设备集成化

1.3.5测试与制造协同

二、3D封装技术及其挑战

2.13D封装技术概述

2.1.1硅通孔(TSV)技术

2.1.2倒装芯片(FC)技术

2.1.3Fan-outWaferLevelPackaging(FO

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