2025年3D封装测试技术前沿动态报告
一、:2025年3D封装测试技术前沿动态报告
1.1技术发展背景
1.23D封装测试技术概述
1.2.13D封装技术
1.2.23D封装测试方法
1.2.33D封装测试设备
1.33D封装测试技术发展趋势
1.3.1测试精度不断提高
1.3.2测试速度不断加快
1.3.3测试方法不断创新
1.3.4测试设备集成化
1.3.5测试与制造协同
二、3D封装技术及其挑战
2.13D封装技术概述
2.1.1硅通孔(TSV)技术
2.1.2倒装芯片(FC)技术
2.1.3Fan-outWaferLevelPackaging(FO
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