融合蚁群与粒子群算法的数字集成电路测试生成优化研究
一、引言
1.1研究背景与意义
在现代电子技术飞速发展的时代,数字集成电路作为电子设备的核心组成部分,广泛应用于计算机、通信、消费电子、工业控制、航空航天等众多领域。从智能手机中实现高速数据处理和通信功能的处理器芯片,到航空航天设备里确保精确导航和飞行控制的集成电路模块,数字集成电路的身影无处不在,其性能和可靠性直接关系到整个电子系统的稳定运行。例如,在5G通信基站中,数字集成电路需要具备高速信号处理能力,以满足海量数据的快速传输和处理需求;在人工智能领域,强大的数字集成电路支撑着复杂的算法运行和模型训练,实现图像识别、语音交互等智能应
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