2026年大学统计学期末考试题库(统计质量管理)计算题及答案解析与技巧.docx

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2026年大学统计学期末考试题库(统计质量管理)计算题及答案解析与技巧

1.某半导体晶圆厂在2026年3月对25片晶圆做厚度测量,得平均厚度x?=502.8nm,样本标准差s=3.2nm。已知客户规格上限USL=510nm,规格下限LSL=490nm。

(1)计算过程能力指数Cp、Cpk;

(2)若要求Cpk≥1.50,问至少要把过程标准差降到多少?

(3)若保持现有波动不变,而把均值调到规格中心,求此时的不合格品率ppm。

答案与解析

(1)规格中心T=(USL+LSL)/2=500nm,公差宽度d=(USL?LSL)/2=10nm。

Cp

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