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无关位优化策略在被测电路自施加测试矢量方法中的深度剖析与创新应用

一、引言

1.1研究背景与动机

在现代科技飞速发展的浪潮中，集成电路技术日新月异，持续推动着电子设备向小型化、高性能化以及多功能化方向迈进。从智能手机、平板电脑等移动设备，到人工智能、物联网、大数据中心等前沿领域，集成电路作为核心组件，其性能和可靠性直接关乎整个系统的运行效果。例如，在5G通信基站中，高性能的集成电路能够确保信号的快速处理与稳定传输，满足海量数据的通信需求；在自动驾驶汽车里，精准可靠的集成电路是实现车辆感知、决策与控制的关键，保障行车安全。

随着集成电路规模的不断扩大，其内部电路的复杂度呈指数级增长。以先进