JJF(皖) 259-2026 半导体器件PCT老化综合试验系统校准规范.pdfVIP

(皖)

安徽省地方计量技术规范

JJF（皖）259-2026

半导体器件PCT老化综合试验系统

校准规范

CalibrationSpecificationforIntegratedPCTAgingTestSystemsfor

SemiconductorDevices

2026—01—09发布2026—03—01实施

安徽省市场监督管理局发布

JJF(皖)259—2026

半导体器件PCT老化

综合试验系统校准规范JJF（皖）259—2026

CalibrationSpecificationfor

IntegratedPCTAgingTestSystems

forSemiconductorDevices

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归口单位：安徽省热工计量技术委员会

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主要起草单位：池州市计量测试所

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.宣城市标准计量所

w安庆市计量测试所

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本规范委托安徽省热工计量技术委员会负责解释

JJF(皖)259—2026

本规范主要起草人：

吴蔡祥（池州市计量测试所）

马克华(池州市计量测试所)

左罗(池州市计量测试所)

殷锦汉(宣城市标准计量所)

蒋立新(安庆市计量测试所)m

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JJF(皖)259—2026

目录

引言（Ⅱ）

1范围（1）

2引用文件（1）

3术语（1）

4概述（2）

5计量特性（2）

6校准条件（3）