原创力文档半导体芯片测试工程师高频面试题
【精选近三年60道高频面试题】
【题目来源：学员面试分享复盘及网络真题整理】
【注：每道题含高分回答示例+避坑指南】
.请简述CP（WaferSort）测试和FT（FinalTest）测试的区别，以及它们在良率分析中各
自的侧重点是什么？（基本必考|需深度思考）
2.在之前的项目中，你使用过哪些主流ATE机台（如TeradyneJ750/UltraFLEX,Advantest
V93k等）？请具体说出其中一
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