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原子级透射电镜图像自动化分析:发展与趋势

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原子级透射电镜图像自动化分析:发展与趋势

摘要:原子级透射电镜(AtomicForceMicroscopy,AFM)作为一种高分辨率的纳米级成像技术,在材料科学、生物学和物理学等领域具有广泛的应用。随着科技的进步,AFM图像的自动化分析技术得到了快速发展。本文旨在综述原子级透射电镜图像自动化分析的发展历程、现有技术及其发展趋势。首先,概述了AFM图像自动化分析的基本原理和方法;

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