《GBT+43682-2024 纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》巩固测.pdfVIP

《GBT+43682-2024纳米技术亚纳米厚度石墨烯薄

膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》巩固测试试

卷及参考答案

一、单选题（每题2分，共30分）

1.GB/T43682-2024的全称是：

A.纳米技术石墨烯薄膜电阻率测试方法

B.纳米技术载流子迁移率通用测量方法

C.纳米技术亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法

D.石墨烯材料技术规范

2.本标准适用于长度和宽度均大于多少的亚纳米厚度石墨烯薄膜的测量？

A.10µm

B.50µm

C.100µm

D.200µm

3.根据术语定义，亚纳米厚度石墨烯薄膜指的是：

A.厚度在1~10nm的石墨烯薄膜

B.厚度在0.1~1nm的石墨烯薄膜

C.厚度尺寸小于1nm的石墨烯薄膜

D.单层石墨烯薄膜

4.标准中“方块电阻”的定义是：

A.霍尔器件的长程电阻和宽长比之积

B.薄膜的体电阻率

C.霍尔电阻与宽长比的比值

D.长程电压与纵向电流之比

5.根据测量原理部分，载流子迁移率是通过测量什么效应来获得的？

A.塞贝克效应

B.霍尔效应

C.光电效应

D.压阻效应

6.图1测量方法示意图中，$V_{xx}$代