《GBT+43883-2024 微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法》巩固测试试.pdfVIP

《GBT+43883-2024微束分析分析电子显微术金属

中纳米颗粒数密度的测定方法》巩固测试试卷

一、单选题(共15题，每题2分，共30分)

1.GB/T43883-2024标准主要规定了利用（）技术测定金属材料中纳米级第二

相颗粒数密度的方法。

A.光学显微镜/扫描电镜

B.透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜

C.原子力显微镜/扫描隧道显微镜

D.X射线衍射仪/能谱仪

2.根据标准，本方法适用于测定粒径在（）范围弥散分布的第二相颗粒数密度。

A.几微米至几十微米

B.几纳米至几十纳米

C.几埃至几十埃

D.几毫米至几十毫米

3.本标准中，“数密度”的定义是（）。

A.单位面积内第二相颗粒的数目。

B.单位质量内第二相颗粒的数目。

C.单位体积内第二相颗粒的数目。

D.试样中第二相颗粒的总体积。

4.在TEM工作模式下，仅允许一束衍射束通过物镜光阑成像时，获得的是（）。

A.明场像

B.暗场像

C.高角环形暗场像

D.二次电子像

5.根据标准，用于TEM/STEM观察的试样厚度，应使被测颗粒的平均尺寸在其（）

以下。

A.1/2

B.1/3

C.1/5

D.1/10

6.在颗粒计数规则中，对于跨测量框边界的颗粒，应计