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CN114565595B 一种基于环芯光纤光斑的熔接偏移量的检测方法 （中山大学）.docxVIP

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  • 2026-03-19 发布于山西
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CN114565595B 一种基于环芯光纤光斑的熔接偏移量的检测方法 （中山大学）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN114565595B

    (45)授权公告日2025.06.03

    (21)申请号202210211105.6

    (22)申请日2022.03.03

    (65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN114565595A

    (43)申请公布日2022.05.31

    (73)专利权人中山大学

    地址510275广东省广州市海珠区新港西

    路135号

    (72)发明人刘洁黄聪唐钢

    (74)专利代理机构广州粤高专利商标代理有限公司44102

    专利代理师王晓玲

    (51)Int.Cl.

    G06T7/00(201

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