CN114502984B 测距装置、以及检测测距装置的窗口的污垢的方法 （株式会社电装）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN114502984B

(45)授权公告日2025.06.06

(21)申请号202080069439.3

(22)申请日2020.09.30

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN114502984A

(43)申请公布日2022.05.13

(30)优先权数据

2019-1834382019.10.04JP2020-1594702020.09.24JP

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2022.04.02

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/JP2020/0371182020.09