CN118692550B 一种半导体存储器测试系统及测试方法 (芯梦达半导体科技(济南)有限公司).pdfVIP

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  • 2026-03-21 发布于重庆
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CN118692550B 一种半导体存储器测试系统及测试方法 (芯梦达半导体科技(济南)有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN118692550B

(45)授权公告日2025.01.21

(21)申请号202411178050.9(51)Int.Cl.

G11C29/56(2006.01)

(22)申请日2024.08.27

(56)对比文件

(65)同一申请的已公布的文献号

申请公布号CN118692550ACN116665760A,2023.08.29

US2019285695A1,2019.09.19

(43)申请公布日

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