CN120030836A 一种基于概率晶体塑性的缺口结构疲劳寿命预测方法 (电子科技大学).pdfVIP

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  • 2026-03-23 发布于重庆
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CN120030836A 一种基于概率晶体塑性的缺口结构疲劳寿命预测方法 (电子科技大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120030836A

(43)申请公布日2025.05.23

(21)申请号202510104779.XG06F119/14(2020.01)

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