现代分析技术在文物保护中的应用----（2）形貌分析.pptxVIP

现代分析技术在文物保护中的应用

----（2）形貌分析;文物样品常用形貌分析方法;扫描电子显微镜（ScanningElectronMicroscope-SEM);SEM;SEM;SEM;SEM;SEM;SEM;北京地区文博单位电镜配备情况;扫描电镜分析;特点;三种显微镜的比较;电子束与固体样品相互作用时产生的物理信号;电子束与固体样品相互作用时产生的物理信号;16;二次电子像与背散射电子像的对比;二次电子像与背散射电子像的对比;二次电子像与背散射电子像的对比;二次电子像与背散射电子像的对比;充电现象;样品表面电荷集聚;扫描电子显微镜的结构和工作原理;电子光学系统;电子光学系统组件的作用;样品室（samplechamber）;检测器外观;检测器外观;大样品室;样品室实物图;样品台;信号系统、真空系统和电源系统的作用;工作原理;扫描电子显微镜的主要性能-放大倍数;扫描电子显微镜的主要性能-分辨率;扫描电子显微镜的主要性能-景深;文物中存留的微生物;对于导电性好的样品如金属，合金以及半导体材料，薄膜样品基本不需要进行样品处理，就可以直接观察。只要注意几何尺寸上的要求。但要求样品表面清洁，如果被污染容易产生荷电现象。

对于需要进行元素组成分析的样品，一般在表面蒸发轻元素作为导电层如：金属铝和碳薄膜层。对于粉体样品可以直接固定在导电胶带上。;扫描电镜所使用的导电胶;扫描电镜样品