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CN115050415B 半导体存储装置及错误检测校正方法 （华邦电子股份有限公司）.docxVIP

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  • 2026-03-26 发布于山西
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CN115050415B 半导体存储装置及错误检测校正方法 （华邦电子股份有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN115050415B

    (45)授权公告日2025.06.27

    (21)申请号202210084847.7

    (22)申请日2022.01.25

    (65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN115050415A

    (43)申请公布日2022.09.13

    (30)优先权数据

    2021-0368902021.03.09JP

    (73)专利权人华邦电子股份有限公司

    地址中国台湾台中市大雅区科雅一路8号

    (72)发明人葛西央伦金子二四三

    (74)专利代理机构北京同立钧成知识产权代理有限公司11205

    专

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