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GB/T 4937.28-2026半导体器件　机械和气候试验方法　第28部分：静电放电(ESD)敏感度测试　带电器件模型(CDM)　器件级.pdf

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  • 2026-03-31 发布于四川
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  • 暂未开始实施
  •   |  2026-02-27 颁布
  •   |  2026-09-01 实施

GB/T 4937.28-2026半导体器件　机械和气候试验方法　第28部分：静电放电(ESD)敏感度测试　带电器件模型(CDM)　器件级.pdf

    ICS31.080.01

    CCSL40

    中华人民共和国国家标准

    /—/:

    GBT4937.282026IEC60749-282022

    半导体器件机械和气候试验方法

    :()

    第部分静电放电敏感度测试

    28ESD

    带电器件模型()器件级

    CDM

    ——

    SemiconductordevicesMechanicalandclimatetestmethods

    GB/T 4937.28-2026半导体器件　机械和气候试验方法　第28部分：静电放电(ESD)敏感度测试　带电器件模型(CDM)　器件级.pdf 原文免费试下载

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