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CN115855950B 针对微小瑕疵与错件的影像检测方法及其系统 （环维电子(上海)有限公司）.docxVIP

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  • 2026-04-04 发布于山西
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CN115855950B 针对微小瑕疵与错件的影像检测方法及其系统 （环维电子(上海)有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN115855950B

    (45)授权公告日2025.06.24

    (21)申请号202211471276.9

    (22)申请日2022.11.23

    (65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN115855950A

    (43)申请公布日2023.03.28

    (73)专利权人环维电子(上海)有限公司

    地址201201上海市浦东新区金桥出口加

    工区(南区)龙桂路501号

    (72)发明人张益铭

    (74)专利代理机构隆天知识产权代理有限公司72003

    专利代理师黄艳

    (51)Int.Cl.

    G01N21/8

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