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CN120124569A 基于多阶段贝叶斯优化的模拟集成电路测试激励生成方法 （电子科技大学）.pdfVIP

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  • 2026-04-08 发布于重庆
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CN120124569A 基于多阶段贝叶斯优化的模拟集成电路测试激励生成方法 （电子科技大学）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN120124569A

    (43)申请公布日2025.06.10

    (21)申请号202510149995.6

    (22)申请日2025.02.11

    (71)申请人电子科技大学

    地址611731四川省成都市高新区（西区）

    西源大道2006号

    (72)发明人杨成林陈涵黄欣红温涵宇

    (74)专利代理机构成都行之专利代理有限公司

    51220

    专利代理师温利平

    (51)Int.Cl.

    G06F30/38(2020.01)

    G06F30/398(2020.01)

    G06F111/08(2020.01)

    权利要求

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