CN120068779A 一种芯片自主设计的鉴定方法和装置 (泰尔实验室科技(无锡)有限公司).pdfVIP

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  • 2026-04-08 发布于重庆
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CN120068779A 一种芯片自主设计的鉴定方法和装置 (泰尔实验室科技(无锡)有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120068779A

(43)申请公布日2025.05.30

(21)申请号202510153855.6

(22)申请日2025.02.12

(71)申请人泰尔实验室科技(无锡)有限公司

地址214131江苏省无锡市经济开发区高

浪东路999-8-D1-102

(72)发明人马晶晶朱亮来志京

(74)专利代理机构无锡华建知识产权代理事务

所(普通合伙)32767

专利代理师周洁

(51)Int.Cl.

G06F30/392(2020.01)

G06F30/394(2020.01)

权利要求书2页说明书5页

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