基于改进BiSeNet V2的手机盖板缺陷检测方法.docx

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基于改进BiSeNetV2的手机盖板缺陷检测方法

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基于改进BiSeNetV2的手机盖板缺陷检测方法

摘要:随着智能手机行业的快速发展,手机盖板的质量检测成为了一项至关重要的任务。传统的检测方法存在效率低、成本高的问题。本文提出了一种基于改进BiSeNetV2的手机盖板缺陷检测方法。首先,对BiSeNetV2网络进行改进,引入深度可分离卷积和注意力模块,提高网络的特征提取能力。其次,设计了一种新的损失函数,结合交叉熵损

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