CN119395518A 四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测晶圆的方法 (麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司).docxVIP

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  • 2026-04-14 发布于山西
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CN119395518A 四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测晶圆的方法 (麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119395518A

(43)申请公布日2025.02.07

(21)申请号202510007145.2

(22)申请日2025.01.03

(71)申请人麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司

地址201210上海市浦东新区中国(上海)

自由贸易试验区祖冲之路2305号B幢

12层(产证楼层为11层)1203工位

(72)发明人施朱斌刘相华

(74)专利代理机构上海塔科专利代理事务所(普通合伙)31380

专利代理师李韶娟

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G0

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