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通用检具测试题目及答案

一、基础知识题

1.简述塞规（通止规）的设计基准与通止端尺寸确定原则，并说明为何通端长度通常大于止端。

塞规是用于检测孔类零件尺寸是否符合要求的极限量规，其设计基准为被测孔的最大实体尺寸（MMC）。通端（GO端）尺寸对应被测孔的最小极限尺寸（即孔的下偏差），止端（NOGO端）对应被测孔的最大极限尺寸（即孔的上偏差）。

通端长度大于止端的核心原因是“导向性”与“误判预防”。通端需要模拟配合件（如轴）与孔的实际装配状态，较长的设计可确保其沿孔轴线方向顺利插入，避免因孔口倒角或局部变形导致的误判（例如孔口轻微毛刺可能使短尺寸的通端无法通过，但实际孔整体尺寸合格）。止端仅需检测孔的局部最大尺寸，过长的设计会增加与孔壁的接触面积，可能因孔的形状误差（如圆度、圆柱度）导致止端意外通过，降低检测准确性。

2.卡规（轴用极限量规）的通止端尺寸如何确定？检测时若通端无法通过但止端通过，可能的原因有哪些？

卡规用于检测轴类零件的尺寸，其通端对应轴的最大极限尺寸（轴的上偏差），止端对应轴的最小极限尺寸（轴的下偏差）。检测合格的判据是“通端能自由通过，止端不能通过”。

若出现“通端无法通过但止端通过”的异常现象，可能原因包括：

（1）卡规制造误差：通端实际尺寸大于设计值（如研磨过度），或止端实际尺寸小于设计值；

（2）被测轴存在形状误差：如轴的