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CN120107204A 一种适用于明暗场结合图像的轻量级芯片缺陷检测方法 （上海联麓半导体技术有限公司）.pdfVIP

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  • 2026-04-15 发布于重庆
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CN120107204A 一种适用于明暗场结合图像的轻量级芯片缺陷检测方法 （上海联麓半导体技术有限公司）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN120107204A

    (43)申请公布日2025.06.06

    (21)申请号202510178445.7G06V10/40(2022.01)

    G06N3/0464(2023.01)

    (22)申请日2025.02.18

    G06N3/048(2023.01)

    (71)申请人上海联麓半导体技术有限公司G06N3/0499(2023.01)

    地址201822上海市嘉定区叶城路912号

    G06N3/08(

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