CN120089179A 闪存芯片测试方法 （上海华虹宏力半导体制造有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120089179A

(43)申请公布日2025.06.03

(21)申请号202510181865.0

(22)申请日2025.02.18

(71)申请人上海华虹宏力半导体制造有限公司

地址201203上海市浦东新区中国（上海）

自由贸易试验区祖冲之路1399号

(72)发明人谢中华韩文娟孙嘉轩

(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限

公司11227

专利代理师李亚茹

(51)Int.Cl.

G11C29/08(2006.01)

G11C29/50(2006.01)

权利要求书2页说明书6页附图2