CN120195171A 一种金属镀膜晶振片表面缺陷检测方法 （浙江工业大学）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120195171A

(43)申请公布日2025.06.24

(21)申请号202510193630.3

(22)申请日2025.02.21

(71)申请人浙江工业大学

地址310014浙江省杭州市下城区潮王路

18号

(72)发明人王宪保周珉左亚洁项圣

徐昕宇程宝杭

(74)专利代理机构杭州求是专利事务所有限公

司33200

专利代理师贾玉霞

(51)Int.Cl.

G01N21/88(2006.01)

G06T7/00(2017.01)

G06T7/136(2017.01)

G06T7/187(2017.01)