材料科学：材料分析测试技术真题试卷及答案.docxVIP

材料科学：材料分析测试技术真题试卷及答案

考试时间：______分钟总分：______分姓名：______

一、选择题（共10题，每题2.5分，满分25分）

1.下列技术中，主要用于材料物相分析的是（）。

A.扫描电子显微镜（SEM）

B.X射线衍射（XRD）

C.差示扫描量热法（DSC）

D.红外光谱（IR）

2.在SEM中，二次电子（SE）像主要反映样品的（）。

A.成分信息

B.晶体结构

C.表面形貌

D.内部缺陷

3.下列关于布拉格方程2dsinθ=λ的描述，正确的是（）。

A.θ为入射角

B.d为晶面间距

C.λ为X射线波长

D.该方程适用于所有衍射技术

4.TEM与SEM相比，其主要优势是（）。

A.样品制备简单

B.可实现原子尺度成像

C.无需真空环境

D.对样品导电性要求低

5.热重分析（TGA）主要用于测定（）。

A.样品的熔点

B.材料的热稳定性

C.晶体结构信息

D.表面形貌特征

6.关于XPS的描述，正确的是（）。

A.可分析元素价态