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中科大材料分析课件01 X射线衍射分析-4测定方法.pptVIP

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  • 2026-04-23 发布于湖北
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中科大材料分析课件01 X射线衍射分析-4测定方法.ppt

    （3）块状试样的分析分析块状试样时，可将试样切割成20?18mm2大小，用橡皮泥固定在铝样架上或块状试样架上进行测定；如果块状样品有一定大的平面20?40mm2，厚度小于5mm，也可将试样直接插入样品台上测量。注意必须使测定面与试样表面在同一平面上，试样表面的平整度要求达到0.02mm左右。样品制备注意点：

    1）样品颗粒的细度应该严格控制，过粗将导致样品颗粒中能够产生衍射的晶面减少，从而使衍射强度减弱，影响检测的灵敏度；样品颗粒过细，将会破坏晶体结构，同样会影响实验结果。

    2）避免颗粒发生定向排列，从而影响实验

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