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CN119965198A 半导体测试结构和半导体测试方法 （湖南虹安微电子有限责任公司）.pdfVIP

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  • 2026-04-27 发布于重庆
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CN119965198A 半导体测试结构和半导体测试方法 （湖南虹安微电子有限责任公司）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119965198A

    (43)申请公布日2025.05.09

    (21)申请号202510228215.7

    (22)申请日2025.02.27

    (71)申请人湖南虹安微电子有限责任公司

    地址410000湖南省长沙市高新开发区麓

    枫路61号湘麓国际花园二期酒店、公

    寓2509

    (72)发明人安秋爽白羽徐吉

    (74)专利代理机构深圳精智联合知识产权代理

    有限公司44393

    专利代理师邓铁华

    (51)Int.Cl.

    H01L23/544(2006.01)

    H01L21/66(2006.01)

    权利要

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