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《钨化学分析方法第7部分：杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法》标准立项修订与发展报告

钨化学分析方法第7部分：杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法标准发展报告

EnglishTitle:DevelopmentReportontheStandardforChemicalAnalysisMethodsofTungsten-Part7:DeterminationofImpurityElementContent-InductivelyCoupledPlasmaAtomicEmissionSpectrometry

摘要

本报告围绕国家标准计划《钨化学分析方法第7部分：杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法》（计划号T-610）的制定与实施，系统阐述了该标准的发展背景、技术内容、修订意义及未来展望。钨作为一种重要的战略金属，广泛应用于航空航天、电子器件、硬质合金及核工业等领域，其纯度直接影响终端产品的性能与可靠性。随着高纯钨材料需求的日益增长，传统化学分析方法在灵敏度、多元素同时测定及检测效率方面已难以满足现代工业的严格要求。电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）凭借其高灵敏度、宽线性范围及多元素同时分析能力，成为钨中杂质元素测定的主流技术。本报告详细介绍了该标