第六章沸石的结构表征;表征方法;表征方法;X-射线粉末衍射技术;晶系(英文名称)
;XRD技术;表3-3从X射线粉末衍射谱图能得到的材料的特征
;XRD粉末技术;单晶XRD技术;采用电荷耦合探测器(CCD),晶体可到10微米左右;收集数据的时间仅为6-8小时;偏离因子一般可达到0.05以下。
传统的X射线单晶样品体积至少在100微米;时间大约是3-4天。;电子衍射;中子衍射;吸附研究;被固体样品吸取的气体量正比于样品质量m,也取决于温度T、蒸汽压p和固体的本质。若以n表示每克固体吸附的气体量(mol),则有
n=f(p,T,气体,固体)
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