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CN119492806A 半导体器件的信号测量方法、系统、设备及存储介质 （长鑫科技集团股份有限公司）.docxVIP

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  • 2026-05-04 发布于山西
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CN119492806A 半导体器件的信号测量方法、系统、设备及存储介质 （长鑫科技集团股份有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119492806A

    (43)申请公布日2025.02.21

    (21)申请号202310997985.9

    (22)申请日2023.08.07

    (71)申请人长鑫科技集团股份有限公司

    地址230601安徽省合肥市经济技术开发

    区空港工业园兴业大道388号

    (72)发明人范天奇

    (51)Int.Cl.

    G01N29/11(2006.01)

    权利要求书2页说明书10页附图4页

    (54)发明名称

    半导体器件的信号测量方法、系统、设备及

    存储介质

    (57)摘要

    CN119492806A本公开提供一种

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