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高性能开阔场下EMC天线测量系统的构建与优化研究

一、引言

1.1研究背景与意义

随着电子技术的飞速发展，电子产品在人们的生活和工作中扮演着越来越重要的角色。从日常使用的智能手机、平板电脑，到工业领域的自动化设备、通信基站，电子设备的应用无处不在。然而，这些电子产品在工作时会产生电磁干扰，同时也可能受到外界电磁干扰的影响，导致性能下降甚至故障。例如，在医院中，电子医疗设备如果受到电磁干扰，可能会导致诊断结果不准确，危及患者生命安全；在航空航天领域，飞行器上的电子设备一旦受到电磁干扰，可能引发飞行事故，造成不可挽回的损失。因此，电磁兼容性（EMC）测试成为确保电子产品质量和可靠性的关键环节。