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CN120275779A 基于紫外成像的绝缘子绝缘性能检测方法、装置及设备 .pdfVIP

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  • 2026-05-05 发布于重庆
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CN120275779A 基于紫外成像的绝缘子绝缘性能检测方法、装置及设备 .pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN120275779A

    (43)申请公布日2025.07.08

    (21)申请号202510268394.7

    (22)申请日2025.03.07

    (71)申请人国家电网有限公司华东分部

    地址200002上海市黄浦区南京东路201号

    (72)发明人李珂杨国庆卢波范鹏刘波

    沈厚明

    (74)专利代理机构北京中强智尚知识产权代理

    有限公司11448

    专利代理师孟姣

    (51)Int.Cl.

    G01R31/12(2020.01)

    权利要求书2页说明书10页附图2页

    (54)发明名称

    基于紫外成像的绝缘子绝缘性

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