标题：SiC MOSFET体二极管双极退化可靠性试验方法标准化发展报告.docx

标题：SiCMOSFET体二极管双极退化可靠性试验方法标准化发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReportonReliabilityTestMethodsforBipolarDegradationofSiCMOSFETBodyDiode

摘要

本报告聚焦于碳化硅（SiC）功率半导体器件，特别是SiC金属-氧化物半导体场效应晶体管（SiCMOSFET）体二极管工作引起的双极退化可靠性试验方法的标准化问题。随着SiC材料在新能源汽车、智能电网、高速轨道交通等高可靠性领域的广泛应用，其独特的体二极管双极退化现象