CN119494807A 显示设备缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 （舜宇光学（浙江）研究院有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119494807A

(43)申请公布日2025.02.21

(21)申请号202311041963.1

(22)申请日2023.08.16

(71)申请人舜宇光学（浙江）研究院有限公司

地址311200浙江省杭州市萧山区经济技

术开发区建设三路733号信息港五期一号楼205-39

(72)发明人陈全亮戴思勰田文军蒋坤君

(74)专利代理机构杭州华进联浙知识产权代理

有限公司33250

专利代理师贺才杰

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06T7/11(2017.01)

G06V10/44(2022.01)

G06V10/774(2022.01)

G06V10/764(2022.01)

G06V10/82(2022.01)

G06N3/045(2023.01)

G06N3/0464(2023.01)

G06N3/08(2023.01)

权利要求书2页说明书12页附图5页

(54)发明名称

显示设备缺陷检测方法、装置、计算机设备

和存储介质

(57)摘要

CN119494807A本申请涉及一种显示设备缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质，其中，该方法包括：获取显示设备的缺陷图像数据集；基于缺