CN120121960A 一种用于集成电路的半导体芯片测试装置和方法 (无锡市芯微恒达电子科技有限公司).pdfVIP

  • 1
  • 0
  • 约1.46万字
  • 约 16页
  • 2026-05-09 发布于重庆
  • 举报

CN120121960A 一种用于集成电路的半导体芯片测试装置和方法 (无锡市芯微恒达电子科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120121960A

(43)申请公布日2025.06.10

(21)申请号202510281096.1

(22)申请日2025.03.11

(71)申请人无锡市芯微恒达电子科技有限公司

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档